產品詳情
簡單介紹：
對于客戶和供應商而言，表面紋理是確定外延半導體質量的極其重要的參數
詳情介紹：
磊晶片測量
由于光電組件在電訊和顯示技術領域的的用途不斷擴展，外延技術成為組件生產的關鍵技術。外延是指在單晶基片表面上沉積非常薄的半導體物質層的過程。每個晶體層稱為外延層。
計量
表面粗糙度
對于客戶和供應商而言，表面紋理是確定外延半導體質量的極其重要的參數。對于目前的驅動器而言，因為要在硅片上印刷的電路越來越小，所以粗糙度容差范圍變得更窄。磊晶片的表面粗糙度規定為納米級，所以這需要使用噪音非常低且分辨率高的系統來測量磊晶片。
